Б.В.Чувыкин,И.А.Долгова,
Г.В.Миловзоров

Методы восстановления амплитуды импульсных сигналов в каналах с ограниченным динамическим диапазоном

5-12

Ф.Г.Агаев,Х.Г.Асадов,
М.Э.Омаров,С.С.Алиева

Мониторинг фенологии развития растительности путем измерения индуцированного флуоресцентного излучения хлорофилла

13-19

Ю.М.Скрябин

Влияние помех на точность определения местоположения летательного аппарата информационно-измерительной системой электростатической локации

20-29

С.С.Верхушин,В.И.Мищенко,
И.В.Мищенко,К.Н.Исаков

Выбор прототипа модели процесса функционирования измерительного канала многоканальной измерительной системы для расчета ее коэффициента готовности при ограниченной информации о надежности

30-39

Е.А.Михайлов,В.И.Мищенко,
А.П.Пермяков

Анализ существующих подходов к обоснованию срока службы метрологических комплексов

40-45

П.Г.Михайлов,А.П.Михайлов,
И.Н.Пасхин, А.Р.Ахметов,
Е.Д.Фадеев

Методы обеспечения стабильности пленочных структур металлопленочных датчиков для ракетно-космической и авиационной техники

46-57

И.Н.Урваев,С.Н.Базыкин

Имитационное моделирование гидродинамических параметров подводного безэкипажного аппарата

58-67

А.Дж.Алиева,Х.С.Алиева,
М.Г.Ашрафов,Н.Х.Мустафазаде

Оптимизация альбедометрических измерений с применением беспилотного летательного аппарата 

68-75

В.С.Волков,С.Н.Базыкин,
В.А.Бардин, К.С.Самохина,
Н.В.Волкова

Моделирование чувствительного элемента датчика давления в виде гофрированной кремниевой мембраны

76-83

А.В.Светлов,А.С.Колдов

Исследование амплитудного детектора для измерителей параметров резонансных электрических цепей

84-91

Б.В.Цыпин,С.П.Прокопчук

Оценка результатов измерений при технологической проверке сложных технических объектов

92-102

С.В.Логунов,Е.В.Благодыренко,
И.С.Герасименко,Н.А.Куприянов

Определение пороговых значений погрешностей для применения метода комбинирования неравноточных измерений параметров движения маневрирующих спутников

103-115

Е.А.Печерская,У.С.Чихрина,
О.В.Карпанин, П.Е.Голубков,
С.А.Гурин

Исследование морфологии поверхности сегнетоэлектрической пленки титаната бария, полученной методом микродугового оксидирования

116-122

Е.А.Печерская,О.В.Карпанин,
Д.Е.Нелюцкова, А.М.Метальников,
У.С.Чихрина

Исследование вольт-амперных характеристик полупроводниковых структур с помощью
разработанной автоматизированной информационно-измерительной системы

123-128

А.С.Ефремов,Л.В.Лукичев

Комплекс моделей построения и функционирования ведомственной системы поверочных органов

129-138

М.В.Спринджук,В.И.Берник,
А.П.Кончиц

Cовременная классификация программного обеспечения для анализа биоинформационных данных геномной природы и новые концепции интерпретации вычислительных экспериментов

139-148