Статья 14424

Название статьи

ИССЛЕДОВАНИЕ ВОЛЬТ-АМПЕРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СТРУКТУР
С ПОМОЩЬЮ РАЗРАБОТАННОЙ АВТОМАТИЗИРОВАННОЙ ИНФОРМАЦИОННО-ИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ СИСТЕМЫ 

Авторы

Екатерина Анатольевна Печерская, доктор технических наук, профессор, заведующий кафедры информационно-измерительной техники и метрологии, Пензенский государственный университет (Россия, г. Пенза, ул. Красная, 40), E-mail: iit@pnzgu.ru
Олег Валентинович Карпанин, заведующий службой калибровки и ремонта, кафедра информационно-измерительной техники и метрологии, Пензенский государственный университет (Россия, г. Пенза, ул. Красная, 40), E-mail: karpanino@mail.ru
Диана Евгеньевна Нелюцкова, студентка, Пензенский государственный университет (Россия, г. Пенза, ул. Красная, 40), E-mail: diana.tuzova.02@bk.ru
Алексей Михайлович Метальников, кандидат технических наук, старший научный сотрудник, Пензенский государственный университет (Россия, г. Пенза, ул. Красная, 40), E-mail: metalnikovam@gmail.com
Ульяна Сергеевна Чихрина, студентка, Пензенский государственный университет (Россия, г. Пенза, ул. Красная, 40), E-mail: chikhulyana@yandex.ru

Аннотация

Актуальность и цели. В настоящее время полупроводниковые структуры и приборы применяются во многих отраслях, в частности, электронике, телекоммуникациях, приборостроении. Рассматривается способ экспериментального определения их параметров посредством измерения вольт-амперных характеристик полупроводников с помощью автоматизированной информационно-измерительной системы. Цель работы – исследование электрофизических параметров полупроводниковых компонентов и описание методики измерений, положенной в основу измерительной системы. Материалы и методы. Автоматизированная информационно-измерительная система предназначена для исследования различных полупроводниковых компонентов и изделий, таких как интегральные схемы, микросхемы, диоды, транзисторы, солнечные элементы, стабилитроны, устройства с зарядовой связью, солнечные элементы. Все эти компоненты используются в электронике, машиностроении, оптоэлектронике и системах обработки сигналов. Результаты. Выполнено измерение вольт-амперной характеристики на примере полупроводникового компонента (диода 2Д212Б), осуществлен анализ полученных результатов, представленных в табличном и графическом виде. Выводы. Представлена структура автоматизированной информационно- измерительной системы, которая содержит измерительный блок и ЭВМ, осуществляющую управление измерениями и автоматизированную обработку результатов измерений с целью опре

Ключевые слова

информационно-измерительная система, автоматизация измерений, полупроводниковые компоненты, исследование диода, вольт-амперная характеристика

 

 Скачать статью в формате PDF

Для цитирования:

Печерская Е. А., Карпанин О. В., Нелюцкова Д. Е., Метальников А. М., Чихрина У. С. Исследование вольт-амперных характеристик полупроводниковых структур с помощью разработанной автоматизированной информационно-измерительной системы // Измерение. Мониторинг. Управление. Контроль. 2024. № 4. С. 123–128. doi: 10.21685/2307-5538-2024-4-14

 

Дата создания: 30.01.2025 13:20
Дата обновления: 03.02.2025 12:12
Сайт использует сервис аналитики MyTracker, оставаясь на сайте, вы соглашаетесь на размещение файлов cookie на вашем устройстве. Продолжая посещать сайт, вы соглашаетесь с политикой "обработки персональных данных" для согласия нажмите:   Согласен!